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CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
作者:
陈祝
龙恩
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
摘要:
CMOS Scaling理论下器件特征尺寸越来越小,这使得CMOS电路结构中的闩锁效应日益突出.闩锁是CMOS电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致器件失效.文章首先分析了CMOS电路结构中效应的产生机理及其触发方式,得到了避免闩锁效应的条件.然后通过对这些条件进行分析,从版图设计和工艺等方面考虑如何抑制闩锁效应.最后介绍了几种抑制闩锁效应的关键技术方案.
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抑制
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CMOS集成电路
闩锁效应
可控硅
抑制
内容分析
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关键词热度
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文献信息
篇名
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
年,卷(期)
2008,(11)
所属期刊栏目
电路设计
研究方向
页码范围
20-23
页数
4页
分类号
TN433
字数
2224字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2008.11.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈祝
成都信息工程学院通信工程系
20
67
5.0
7.0
2
龙恩
成都信息工程学院通信工程系
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研究主题发展历程
节点文献
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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