钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
无线电电子学与电信技术期刊
\
电子与封装期刊
\
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
作者:
陈祝
龙恩
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
摘要:
CMOS Scaling理论下器件特征尺寸越来越小,这使得CMOS电路结构中的闩锁效应日益突出.闩锁是CMOS电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致器件失效.文章首先分析了CMOS电路结构中效应的产生机理及其触发方式,得到了避免闩锁效应的条件.然后通过对这些条件进行分析,从版图设计和工艺等方面考虑如何抑制闩锁效应.最后介绍了几种抑制闩锁效应的关键技术方案.
暂无资源
收藏
引用
分享
推荐文章
电路系统中的闩锁效应及其预防设计
闩锁效应
上电时序
光耦
热插拔
CMOS电路中的闩锁效应研究
闩锁效应
寄生双极晶体管
集总器件模型
版图设计
CMOS集成电路闩锁效应抑制技术
CMOS集成电路
闩锁效应
可控硅
抑制
CMOS集成电路闩锁效应抑制技术综述
CMOS集成电路
闩锁效应
可控硅
抑制
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
CMOS电路结构中的闩锁效应及其防止措施研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
年,卷(期)
2008,(11)
所属期刊栏目
电路设计
研究方向
页码范围
20-23
页数
4页
分类号
TN433
字数
2224字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2008.11.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈祝
成都信息工程学院通信工程系
20
67
5.0
7.0
2
龙恩
成都信息工程学院通信工程系
2
18
2.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(11)
参考文献
(4)
节点文献
引证文献
(12)
同被引文献
(3)
二级引证文献
(6)
1984(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1996(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2006(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2007(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2008(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2011(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2012(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2013(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2015(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2016(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2017(3)
引证文献(3)
二级引证文献(0)
2018(6)
引证文献(2)
二级引证文献(4)
2019(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2020(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
闩锁效应
CMOS电路
版图设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
期刊文献
相关文献
1.
电路系统中的闩锁效应及其预防设计
2.
CMOS电路中的闩锁效应研究
3.
CMOS集成电路闩锁效应抑制技术
4.
CMOS集成电路闩锁效应抑制技术综述
5.
CMOS器件SEL效应电路级防护设计及试验验证
6.
高温CMOS集成电路闩锁效应分析
7.
电路系统中的闩锁效应及其预防设计
8.
集成电路闩锁效应测试
9.
模拟CMOS集成电路SEL仿真验证研究
10.
一种Bipolar结构中的闩锁效应
11.
0畅18μm CMOS 电路瞬时剂量率效应实验研究
12.
中间电平对CMOS数字电路的影响
13.
CMOS电路中抗Latch-up的保护环结构研究
14.
不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法
15.
CMOS数字电路抗热载流子研究
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
电子与封装2021
电子与封装2020
电子与封装2019
电子与封装2018
电子与封装2017
电子与封装2016
电子与封装2015
电子与封装2014
电子与封装2013
电子与封装2012
电子与封装2011
电子与封装2010
电子与封装2009
电子与封装2008
电子与封装2007
电子与封装2006
电子与封装2005
电子与封装2004
电子与封装2003
电子与封装2002
电子与封装2001
电子与封装2008年第9期
电子与封装2008年第8期
电子与封装2008年第7期
电子与封装2008年第6期
电子与封装2008年第5期
电子与封装2008年第4期
电子与封装2008年第3期
电子与封装2008年第2期
电子与封装2008年第12期
电子与封装2008年第11期
电子与封装2008年第10期
电子与封装2008年第1期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号