IEEE 1450集成电路测试接口语言标准

• 作者: 钟伟军
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE 1450 测试图形转换 标准测试接口语言 仿真数据 自动测试设备
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 集成电路
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN91
• 字数: 2937字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2008.08.006

摘要

讨论了集成电路测试技术中传统测试图形转换存在的问题及标准测试接口语言STIL解决方案,并重点介绍和分析了STIL标准IEEE 1450及其应用现状.提出应该在我国集成电路测试行业内大力推行IEEE 1450标准,以实现高效率低成本测试目标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟伟军		4	9	1.0	2.0