浅谈集成电路交流参数的测试

• 作者: 于祥苓 张静 李海泉
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 交流参数 功能验证
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 28-29,32
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 2198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2008.03.010

摘要

介绍交流参数的概念,测试基本原理与方法,交流参数测试的目的与意义,并以具体电路为例,讲解了在J750测试系统上进行交流参数测试的两种方法,搜索法和功能验证法,并对两种方法进行对比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张静	中国电子科技集团公司第四十七研究所	32	54	5.0	6.0
2	于祥苓	中国电子科技集团公司第四十七研究所	5	17	3.0	4.0
3	李海泉		1	10	1.0	1.0