存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

• 作者: 殷弼君 黄伟平
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 存储器内建自测试 双端口寄存器堆文件
• 年，卷（期）: 2008,（z1）
• 所属期刊栏目: 产品设计
• 页码范围: 122-124
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 字数: 3142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.045

摘要

针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄伟平		2	5	1.0	2.0
2	殷弼君		3	22	2.0	3.0