纳米级变频器及加法器的新概率建模方法

• 作者: 李建平 王森华 赵刚
• 来源期刊: 后勤工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米级 概率逻辑 变频器 加法器
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 基础科学与技术
• 页码范围: 88-91
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 382字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7843.2009.03.021

摘要

纳米级数字电路应用时,必须考虑设备故障对纳米级设计的影响.在马尔可夫新特性随机场基础上,提出了纳米级变频器和加法器的概率逻辑模型,并用它们来建模概率行为.实验分析显示设备故障的概率分布极大依赖于系统结构及其他运行参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建平	后勤工程学院国际小波分析应用研究中心	30	274	8.0	15.0
2	王森华	后勤工程学院国际小波分析应用研究中心	8	16	3.0	3.0