集成芯片的可测性设计技术

• 作者: 王滨
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成芯片 可测性设计 扫描 内建自测试
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 52-53
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 2281字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2009.01.020

摘要

主要介绍了三种可测性设计(DFT)技术,分别是:扫描设计(Scan Design)、边界扫描设计(Boundary Scan Design)和内建自测试设计(BIST).对于这三种设计技术,分别介绍了其原理和设计过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王滨		55	494	12.0	21.0