浅析集成电路测试技术

• 作者: 谢斌
• 来源期刊: 科技信息
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路
• 年，卷（期）: 2009,（36）
• 所属期刊栏目: 高校理科研究2
• 页码范围: 404-405
• 页数: 2页
• 分类号: TN4
• 字数: 4339字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9960.2009.36.340

摘要

集成电路被生产出来以后要进行测试.测试贯穿在集成电路设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是集成电路产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分,它已经成为集成电路产业发展中的一个瓶颈.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢斌	西华师范大学物理与电子信息学院	1	6	1.0	1.0