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摘要:
本文介绍了N MOSFET的物理结构特性以及导电沟道形成过程与本质.详细分析与说明N MOSFET的漏极电流iD与漏源电压uDS特性表达式以及N MOSFET的物理结构、材料特性和制造工艺等对于N MOSFET特性的影响.
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文献信息
篇名 MOSFET特性研究
来源期刊 内蒙古民族大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 场效应管 低功耗 沟道 PN结 夹断
年,卷(期) 2010,(1) 所属期刊栏目 物理
研究方向 页码范围 11-14
页数 分类号 O441.1
字数 1624字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-0185.2010.01.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑文杰 集美大学信息工程学院 12 30 3.0 4.0
2 袁占生 集美大学信息工程学院 15 29 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
场效应管
低功耗
沟道
PN结
夹断
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
内蒙古民族大学学报(自然科学版)
双月刊
1671-0185
15-1220/N
大16开
内蒙古通辽市霍林河大街西536号
16-123
1979
chi
出版文献量(篇)
3837
总下载数(次)
10
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