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摘要:
结合 AlN 成核缓冲层技术和NH3流量调制缓冲层方法,采用 MOCVD 在(0001)面蓝宝石衬底上生长了 AlN 基板,用扫描电镜、原子力显微镜及 X 射线衍射仪对样品进行了表征,结果表明基板无裂纹,其平均粗糙度为0.35 nm,(0002)和(1012)回摆曲线 FWHM 分别为 37"和712".详细论述了AlN基板的生长模式、位错行为和应力释放途径.
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 蓝宝石上AlN基板的MOCVD外延生长
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 AlN基板 MOCVD 原子力显微镜 X射线衍射
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 895-898
页数 分类号 TN305
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 方亮 重庆大学物理学院 62 513 12.0 18.0
2 赵红 11 53 4.0 7.0
3 赵文伯 20 159 5.0 12.0
4 周勋 21 79 5.0 8.0
5 周勇 14 49 4.0 6.0
6 李艳炯 重庆大学物理学院 6 7 2.0 2.0
8 杨晓波 11 33 3.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
AlN基板
MOCVD
原子力显微镜
X射线衍射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
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4307
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