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剂量率对MOSFET器件总剂量效应的影响
功率MOSFET器件
γ射线
剂量率
总剂量效应
Burn-in对SRAM器件电离总剂量效应的影响
SRAM器件
工艺尺寸
高温老炼
电离总剂量效应
不同设计参数MOS器件的γ射线总剂量效应
MOS晶体管
宽长比
辐射效应
总剂量
辐照偏置影响深亚微米MOS器件总剂量效应的理论研究
辐照偏置
总剂量效应
MOS器件
解析模型
器件仿真
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 器件抗总剂量效应试验的若干体会
来源期刊 飞行控制与光电探测 学科 工学
关键词 总剂量效应 试验方法 规律
年,卷(期) 2011,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 8-10
页数 3页 分类号 TN386.1
字数 语种 中文
DOI
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作者信息
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1 牛睿 10 10 2.0 3.0
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2011(0)
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研究主题发展历程
节点文献
总剂量效应
试验方法
规律
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
飞行控制与光电探测
其它
出版文献量(篇)
49
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1
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0
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