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摘要:
通过对SBGA器件与不同表面镀覆层(OSP,ENIG,HASL和Im-Ag)的PCB板互连形成的SnAgCu焊点在温度循环条件下的可靠性进行研究,对比SnPb焊膏,结合有限元仿真进行分析.结果表明:使用ENIG镀覆层的可靠性最好,SnPb样品的焊点失效率为0.98%,SnAgCu样品只有0.68%.温度循环后SnAgCu焊点的总体强度比SnPb焊点要高,SnAgCu样品最危险焊点的等效塑性应变为0.016,而SnPb的为0.028.
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文献信息
篇名 表面镀覆层与焊料的界面反应对可靠性的影响
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 表面镀覆层 无铅钎料 可靠性
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 可靠性
研究方向 页码范围 65-68
页数 分类号 TM931
字数 2491字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2011.03.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蒋廷彪 29 140 7.0 10.0
2 周鹏 3 5 1.0 2.0
3 徐龙会 1 1 1.0 1.0
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2012(1)
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研究主题发展历程
节点文献
表面镀覆层
无铅钎料
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
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31758
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