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摘要:
在普通玻璃衬底上利用掺杂2%(质量)Al2O3的ZnO陶瓷靶材在中频磁控溅射设备中制备了掺铝氧化锌(ZnO∶Al,AZO)薄膜.利用XRD、XPS、紫外可见分光光度计和Hall测试系统研究了Ar气压力(0.73~2.0 Pa)对AZO透明导电薄膜结构、光学和电学性能的影响.随着Ar气压力的增大,电阻率呈先减小后增大的趋势,在0.83 Pa时,AZO薄膜的电阻率为6.91×10-4 Ω·cm,在波长400~800 nm间的平均透过率超过86%.研究结果表明,Ar气压力对于AZO薄膜的导电性是一个敏感的参数,Ar气压力影响在薄膜沉积过程中氧空位的形成和分布,从而影响薄膜的导电性.
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文献信息
篇名 氩气压力对中频磁控溅射制备AZO薄膜性能的影响
来源期刊 金属功能材料 学科 工学
关键词 Ar气压力 中频磁控溅射 AZO薄膜 XPS
年,卷(期) 2011,(4) 所属期刊栏目 实验研究
研究方向 页码范围 14-17
页数 分类号 TM283|O484.4
字数 2593字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 卢志超 40 150 8.0 10.0
2 李德仁 34 124 7.0 10.0
3 方玲 7 41 4.0 6.0
4 胡小萍 2 2 1.0 1.0
5 朱景森 4 3 1.0 1.0
6 张承庆 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
Ar气压力
中频磁控溅射
AZO薄膜
XPS
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金属功能材料
双月刊
1005-8192
11-3521/TG
大16开
北京海淀学院南路76号
18-244
1994
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