SRAM型FPGA单粒子效应试验研究

• 作者: 宋凝芳 朱明达 潘雄
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 单粒子效应 FPGA 重离子 重配置 辐射
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 环境试验与器件
• 页码范围: 836-842
• 分类号: V19
• 字数: 3592字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2012.06.022

摘要

针对军品级SRAM型FPGA的单粒子效应特性,文中采用重离子加速设备,对Xilinx公司Virtex-Ⅱ系列可重复编程FPGA中一百万门的XQ2V1000进行辐射试验.试验中,被测FPGA单粒子翻转采用了静态与动态两种测试方式.并且通过单粒子功能中断的测试,研究了基于重配置的单粒子效应减缓方法.试验发现被测FPGA对单粒子翻转与功能中断都较为敏感,但是在注入粒子LET值达到42MeV?cm2/mg时仍然对单粒子锁定免疫.本文对翻转敏感度、测试方法与减缓技术进行了讨论,试验结果说明SRAM型FPGA对单粒子效应比较敏感,利用重配置技术的减缓方法能够有效降低敏感度,实现空间应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋凝芳	北京航空航天大学光电技术研究所	115	698	15.0	21.0
2	潘雄	北京航空航天大学光电技术研究所	39	189	8.0	12.0
3	朱明达	北京航空航天大学光电技术研究所	5	62	3.0	5.0