基于TMSF240芯片的内部FLASH的一种自测试方法

• 作者: 王国静 马小博
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 内部FLASH 自测试 飞控计算机
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 电子测量技术
• 页码范围: 41-42,40
• 分类号: V247
• 字数: 1992字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2012.02.015

摘要

飞控计算机作为飞行控制系统的核心控制处理单元,其可靠性要求是所有航空电子设备中最高的,用于飞控计算机的每一个元器件都必须经过严格的自测试.随着DSP越来越广泛应用于飞控系统,对于芯片内部FLASH的自测试却往往被忽视,这是飞控系统不能容忍的.针对此问题,文章介绍了一种基于TMSF240芯片的内部FLASH自测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王国静		7	6	1.0	2.0
2	马小博		2	0	0.0	0.0