一种新的嵌入式系统存储器测试算法及应用

• 作者: 周上群
• 来源期刊: 桂林电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式系统 存储器测试 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 228-230,235
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 2715字
• 语种: 中文

摘要

针对目前存储器测试算法的故障覆盖率和测试效率不能兼顾的情况,提出一种新的棋盘走步测试算法.通过对存储单元的数据构造棋盘图形,同时对地址进行升序和降序的走步,实现了快速有效的测试.结合MPC8548E CPU的硬件系统,完成了测试算法的验证.实验结果表明,该算法简单高效,适合嵌入式系统对存储器的测试应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周上群	桂林电子科技大学信息与通信学院	1	5	1.0	1.0