一种基于锁存器实现时序收敛的方法

• 作者: 万培元 张阳 林平分 潘照华
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 可测性设计 扫描链测试 时序收敛 时钟偏移 锁存器
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 51-55
• 页数: 5页
• 字数: 2063字
• 语种: 中文

摘要

扫描链测试,作为一种简单、高效的可测性设计方法,已经广泛应用于集成电路设计中.该方法可以有效地检测出电路制造过程中的缺陷和故障,从而降低芯片的测试成本.但是随着扫描链的插入,芯片物理设计中的时序收敛变得更加复杂,尤其是在扫描链测试的移位模式下,由于时钟偏移的存在,保持时间可能存在大量的时序违例.针对这种情况,本文首先介绍了扫描链测试的基本原理,分析了插入扫描链之后出现保持时间违例的原因,提出了一种基于锁存器的修复时序违例的方法,并详细阐述了对于不同边沿触发的触发器组如何选择相应的锁存器实现时序收敛.最后,将该方法应用于一款电力通信芯片的物理设计,快速、高效地实现了时序的收敛.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张阳	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	9	48	4.0	6.0
2	万培元	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	27	78	5.0	7.0
3	林平分	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	92	254	8.0	12.0
4	潘照华	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	2	1	1.0	1.0