Y波导集成光学器件高低温储存寿命试验

• 作者: 党进超 张宁 李俊慧 杨德伟 王新占 赵斌 郑远生
• 来源期刊: 中国惯性技术学报
• 学科: 交通运输
• 关键词: 集成光学 光纤陀螺 加速试验 Arrhenius模型
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 惯性仪表研究与设计
• 页码范围: 109-113
• 页数: 5页
• 分类号: U666.1
• 字数: 3127字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13695/j.cnki.12-1222/o3.2014.01.022

摘要

为摸清Y波导在高低温储存环境下的薄弱环节及其寿命,通过开展高低温条件下的储存寿命试验,分阶段测试Y波导的插入损耗、分束比、尾纤偏振串音和半波电压等参数,有失效器件产生时则终止试验.对试验参数分析知,耦合区材料及结构是波导的薄弱环节.试验结果表明Y波导的插入损耗变化量≤0.45 dB;分束比变化量≤3.0％;偏振串音≤-30 dB;半波电压变化量≤1.8％,无失效器件产生.采用阿伦尼斯(Arrhenius)模型对器件寿命进行评估,Y波导集成光学器件在85℃条件下的储存寿命为18 000 h,相当于22℃下的1.6×107h.该研究给出了Y波导长期高温储存的加速寿命和寿命评估,为其在光纤陀螺及其他传感系统中的应用提供了理论参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李俊慧		1	5	1.0	1.0
2	党进超		1	5	1.0	1.0
3	张宁		1	5	1.0	1.0
4	王新占		1	5	1.0	1.0
5	赵斌		1	5	1.0	1.0
6	郑远生		3	8	2.0	2.0
7	杨德伟	北京航天航空大学光电技术研究所	1	5	1.0	1.0