集成电路振荡频率的性能测试

• 作者: 姚海燕
• 来源期刊: 电脑与信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: LCPU01 晶振 电容容量 加速 芯片测试
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 通信技术与硬件设计
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TP206
• 字数: 1060字
• 语种: 中文

摘要

LCPU01是岭芯微电子公司的一款用于无线网卡的电源管理类IC,内部包含了一个同步降压转换器、九个高速LDO和一个反相器用来与外部晶振构成振荡电路.实际芯片测试时,通过合理设置晶振两端的电容容量,可以加速晶振起振,增加频率测试的稳定性、减少测试时间,最终提高芯片测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚海燕		7	5	1.0	2.0