基于全扫描技术的可测性研究与应用

• 作者: 杨圣楠 王法翔
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 可测性 全扫描 扫描链 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 字数: 2685字
• 语种: 中文

摘要

扫描技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分,详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对扫描测试问题进行分析,最后分析了导致故障覆盖率不同的一些因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨圣楠	福州大学物理与信息工程学院	2	3	1.0	1.0
2	王法翔	福州大学物理与信息工程学院	4	6	2.0	2.0