多指PHEMT器件热点和热阻数值研究

• 作者: 吴晶 李敏
• 来源期刊: 工程热物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: PHEMT 自热效应 NEB模型 热点 (火积)耗散热阻
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 1807-1811
• 页数: 5页
• 分类号: TK124
• 语种: 中文

摘要

随着大功率半导体器件的发展,其局部热流密度急剧增加.为防止器件功能失效,需要可靠的建模技术来研究器件的热学行为,进而指导其冷却设计.本文采用非等温能量平衡模型研究了自热效应对栅长为500 nm的多指GaAs赝配高电子迁移率固态微波功率器件(PHEMT)的热学特性的影响.基于泊松方程、连续性方程、输运方程和晶格热方程,数值求解得到了器件的热点位置和温度分布,并通过实验进行了验证.最后,应用(火积)理论,进一步分析了(火积)耗散热阻在评价器件热学性能方面的适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李敏		45	304	9.0	16.0
2	吴晶		31	81	6.0	7.0