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一种新的解析提取RF SOI MOS变容管衬底模型参数的方法
一种新的解析提取RF SOI MOS变容管衬底模型参数的方法
作者:
刘军
沈国荣
陈小川
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
RF SOI
MOS变容管
衬底模型
解析提取
摘要:
本文提出一种适用于RF SOI工艺MOS变容管行为表征的新模型.提出的模型考虑了SOI衬底的物理特性,并给出了解析提取衬底寄生网络模型参数的方法.采用提出的模型,精确预见了RF SOI MOS变容管器件特性,测量和模型仿真结果,在20 GHz频率范围内得到很好的吻合.
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文献信息
篇名
一种新的解析提取RF SOI MOS变容管衬底模型参数的方法
来源期刊
中国集成电路
学科
关键词
RF SOI
MOS变容管
衬底模型
解析提取
年,卷(期)
2015,(6)
所属期刊栏目
设计
研究方向
页码范围
59-64
页数
6页
分类号
字数
2724字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘军
中国科学院上海高等研究院
83
734
15.0
24.0
2
陈小川
中国科学院上海高等研究院
5
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沈国荣
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节点文献
RF SOI
MOS变容管
衬底模型
解析提取
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
中国集成电路
主办单位:
中国半导体行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-5289
CN:
11-5209/TN
开本:
大16开
出版地:
北京朝阳区将台西路18号5号楼816室
邮发代号:
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
4772
总下载数(次)
6
总被引数(次)
7210
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