半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究

• 作者: 马俊
• 来源期刊: 电脑编程技巧与维护
• 关键词: 半导体集成电路 可靠性测试 数据处理
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 数据库与信息管理
• 页码范围: 52-53,60
• 页数: 3页
• 字数: 3187字
• 语种: 中文

摘要

探讨了半导体集成电路可靠性设计技术,分析了栅氧化层测试技术与数据处理方法,介绍了斜坡电压测试和介质击穿的实验两种方法,并给出了热载流子注入测试技术与数据处理方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马俊		27	45	5.0	6.0