一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法

• 作者: 付妮 拜福君 李晓骏 段会福
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: SRAM 读取时间 自测试
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 196-197
• 页数: 2页
• 字数: 2563字
• 语种: 中文

摘要

本文设计了一种SRAM读取时间自测试电路及测试方法,通过增加一个延时扫描电路、一个比较器和一个计数器,可以自动扫描并快速地找到与SRAM读取时间最近接的延时,通过测量由该延时组成的环形振荡器的振荡周期从而得到SRAM的读取时间.这种测试方法避免了测试时频繁的人工操作介入,测试效率高,并且由于采用固定延时单元和具有多个可选延时的单元的组合方式,在保证较大的测量范围的前提下,节省版图面积.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	拜福君		3	1	1.0	1.0
2	段会福		3	1	1.0	1.0
3	付妮		3	1	1.0	1.0
4	李晓骏		4	2	1.0	1.0