电迁移不同失效模式的微观机理及其有限元寿命预测

• 作者: 张元祥 张继成 梁利华 王静
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电迁移试验 原子扩散 裂纹扩展 失效模式 数值模拟 寿命预测
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 热点与关注
• 页码范围: 9-15
• 页数: 7页
• 分类号: O472.4|TN406
• 字数: 3975字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.09.003

摘要

基于电迁移加速试验,在不同的电流密度及温度条件下对BGA结构的电迁移失效模式进行了分析.从原子扩散剧烈程度的角度,得到了由原子的显著迁移以及裂纹的扩展所引起的电迁移失效模式的竞争机制.同时利用原子密度积分算法,通过自适应时间增量步算法来提高其计算精度及效率,并用来分析其电迁移寿命.将试验及模拟结果进行对比,分析了目前电迁移算法的弊端,并提出了改进方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王静	浙江工业大学机械工程学院	9	72	3.0	8.0
2	梁利华	浙江工业大学机械工程学院	64	347	12.0	15.0
3	张元祥	衢州学院机械工程学院	21	41	5.0	5.0
4	张继成	浙江工业大学机械工程学院	4	3	1.0	1.0