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一机多用,实现集成电路测试"高产出"
一机多用,实现集成电路测试"高产出"
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摘要：
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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析
集成电路
精密测量单元
直流参数测试
性能分析
嵌入式
基于LabVIEW的集成电路测试分析仪
集成电路测试
LabVIEW
SN754410
USB/串口转换电路
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
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期刊影响力
软件和集成电路
主办单位：
中国电子信息产业发展研究院
赛迪工业和信息化研究院有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
2096-062X
CN：
10-1339/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市海淀区紫竹院路66号赛迪大厦8层
邮发代号：
82-469
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
2012
总下载数（次）
4
总被引数（次）
571
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软件和集成电路2018年第9期
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