原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
基于FinFET栅电容结构微观物理特性原理,通过能带结构关系推导了考虑量子效应的栅电容物理模型公式,使用TCAD搭建了FinFET器件结构,通过MATLAB仿真出栅电容随栅电压变化的特性曲线,与理想状态对比得到在反型状态量子效应会使栅电容增大的结论,量子电容成为影响栅电容大小的主导因素,同时分析了不同状态下决定栅电容的因素,仿真了不同拟合参数对特性曲线的影响,为改善晶体管栅电容线性度的研究提供理论依据,提出的栅电容模型对基于FinFET结构的电路设计研究具有了现实意义.
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文献信息
篇名 考虑量子效应的FinFET栅电容物理模型研究
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 FinFET 量子效应 栅电容 物理模型
年,卷(期) 2019,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 30-33
页数 4页 分类号 TN432
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 于肇贤 北京信息科技大学理学院 44 43 3.0 4.0
2 殷树娟 北京信息科技大学理学院 38 111 5.0 9.0
3 高歌 北京信息科技大学理学院 3 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
FinFET
量子效应
栅电容
物理模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
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59060
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