多目标优化的多存储器内建自测试

• 作者: 刘丰 李松 陈佳楠 马永涛
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 共享内建自测试 多目标优化 聚类 遗传算法
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 193-199
• 页数: 7页
• 分类号: TP333|TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B1902370

摘要

片上系统中含有大量的存储器,常使用共享内建自测试电路的方法测试.内建自测试电路的插入过程受到片上系统的面积开销、测试功耗与测试时间的约束.针对这个问题,将多存储器内建自测试建模为多目标优化问题,并提出一种多目标聚类遗传退火算法.该算法在遗传算法的基础上,通过存储器聚类获得存储器兼容组,采用启发式方法获得高质量初始解,提出一种多约束条件下不同权重的目标函数,对较优个体采用模拟退火算法规避局部最优解风险.实验结果表明,该算法比遗传算法性能更优,获得存储器组解进行测试,比现有方法测试功耗降低11.3％,或测试时间降低48.7％,节省了片上测试资源与测试时间.