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芯片推力方法与MEMS芯片固化工艺的研究
芯片推力方法与MEMS芯片固化工艺的研究
作者:
郑志荣
陈学峰
董华
胡乃仁
朱天意
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
封装
MEMS
芯片推力
摘要:
介绍了封装推力与MEMS(微电子机械系统芯片)固化的通用工艺,提出了芯片固化中遇到的问题.针对异议的工艺与材料进行了试验,采用数理统计方法进行了分析.对MEMS装片材料与结构进行研究,找出芯片推力实施的过程的问题,实施优化MEMS芯片推力方法.最终采用数理统计方法验证了该推力方法在工艺实施过程的可行性,该方法满足了大生产要求.
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文献信息
篇名
芯片推力方法与MEMS芯片固化工艺的研究
来源期刊
中国集成电路
学科
关键词
封装
MEMS
芯片推力
年,卷(期)
2021,(1)
所属期刊栏目
工艺
研究方向
页码范围
57-62
页数
6页
分类号
字数
语种
中文
DOI
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
封装
MEMS
芯片推力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国集成电路
主办单位:
中国半导体行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-5289
CN:
11-5209/TN
开本:
大16开
出版地:
北京朝阳区将台西路18号5号楼816室
邮发代号:
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
4772
总下载数(次)
6
总被引数(次)
7210
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