HAST在塑封微电路评价中的应用

• 作者: 阳辉 钟征宇 黄文铮 杜忠磊
• 来源期刊: 光源与照明
• 关键词: 塑封微电路 高加速应力试验 加速因子 失效模式 失效机理 偏置电压
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 照明电器
• 页码范围: 96-97
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

湿热环境对塑封微电路(PEM)的可靠性影响较大,而相关标准均给出了PEM的加偏置高加速应力试验(HAST)方法的相关要求.基于此,文章介绍了HAST模型及其对PEM失效模式、失效机理的影响,以及加速因子计算和偏置电压施加准则.