电子与封装期刊
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543

电子与封装

Electronics and Packaging

影响因子 0.2463
本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
出版周期:
月刊
邮编:
214035
地址:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
出版文献量(篇)
3006
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  • 作者: 向圆 吴慧 李丙旺 谢斌
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  1-6,37
    摘要: BGA(ball grid array)球栅阵列封装技术是20世纪90年代以后发展起来的一种先进的高性能封装技术,是一种用于多引脚器件与电路的封装技术。BGA最大的特点就是采用焊球作为引脚,...
  • 作者: 张益平 李云海 章文
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  7-9,32
    摘要: 采用电子束蒸发进行的背面金属化工艺中遇到的较为常见的问题,就是在蒸发过程中发生的蒸发源飞溅状况。这是影响工艺可靠性及稳定性的重要问题,如何通过工艺控制手段减少甚至杜绝此类问题的出现对实际生产...
  • 作者: 刘珊珊 康锡娥
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  10-12,28
    摘要: 为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越...
  • 作者: 陈刚 高博 龚敏
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  13-17
    摘要: 提出了一个基于商用65 nm工艺在晶体管级设计抗辐射数字标准单元库的方法。因为当C单元的两个输入是不同的逻辑值时输出会进入高阻模式,并保持输出逻辑电平不变,而当输入端有相同的逻辑值时,C单元...
  • 作者: 刘丽丽 王永刚 胡惠娟
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  18-20,42
    摘要: 在0.18μm高压产品工艺生产过程中,作者发现晶片在钨化学机械研磨制程后会有很严重的钨剥落缺陷,此种缺陷成行排列,有一定规律,与光罩的曝光间隔距离相匹配,该缺陷会导致产品良率有非常明显的下降...
  • 作者: 刘国柱 张世权 贺琪
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  21-23
    摘要: 光刻胶剖面形貌和关键尺寸(CD)是光刻工艺的关键参数,而实际光刻工艺中受到前层次图形的影响,尤其是后端布线工艺受到前面工序高低台阶影响十分严重。文章基于光学干涉原理及King的胶厚理论模型和...
  • 作者: 彭亮 杜迎 黄峥嵘 黄明晖
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  24-28
    摘要: 文中介绍了印制电路板上电磁干扰辐射产生的主要原因,并对其产生的机理进行了详细的研究和分析,得出了能够减少电磁干扰的几种方法。在印刷电路板设计中,对单面板的线路板迹线的阻抗和PCB布线的分析以...
  • 作者: 丁涛杰 罗晟 郭晖
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  29-32
    摘要: 集成电路在实际应用中,经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时,需要采用各种手段尽快定位问题所在,随后在本地复现相关现象,明确问题原因,进而提出针对性的解决方案。文章介绍了一款48...
  • 作者: 张立荣
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  33-37
    摘要: 利用SILVACO工艺模拟软件和器件模拟软件以及L-Edit版图设计工具,我们对一款高压VDMOS功率器件进行了模拟仿真和优化设计。利用自主开发的VDMOS工艺流程完成了器件的实际流片。测试...
  • 作者: 乔明 何逸涛 周淼 洪根深 肖志强 苏郁秋 陈正才 高向东
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  38-42
    摘要: 文章基于1.5μm厚顶层硅SOI材料,设计了用于200 V电平位移电路的高压LDMOS,包括薄栅氧nLDMOS和厚栅氧pLDMOS。薄栅氧nLDMOS和厚栅氧pLDMOS都采用多阶场板以提高...
  • 作者: 赵静
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  43-47
    摘要: 文中介绍基于OBD-II标准,采用单片机控制技术设计嵌入式汽车故障诊断仪的方法。该诊断仪硬件设计上采用Atmel公司的AVR单片机作为控制核心,通过外围的接口电路完成电平转换,同时由键盘和L...
  • 作者:
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2013年6期
    页码:  48-48
    摘要:

电子与封装基本信息

刊名 电子与封装 主编 王虹麟
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所  主管单位 中国电子科技集团公司
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1681-1070 CN 32-1709/TN
邮编 214035 电子邮箱 ep.cetc58@163.com
电话 0510-85860386 网址 www.ep.org.cn
地址 江苏无锡市惠河路5号(208信箱)

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