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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 半导体器件的可靠性筛选与失效分析技术
来源期刊 仪器与未来 学科 工学
关键词 半导体器件 可靠性 失效分析
年,卷(期) 1990,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 6-7
页数 2页 分类号 TN306
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研究主题发展历程
节点文献
半导体器件
可靠性
失效分析
研究起点
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期刊影响力
仪器与未来
月刊
1000-1360
11-1307/TH
北京月坛南街3号
出版文献量(篇)
1060
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