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内容分析
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文献信息
篇名 反应离子刻蚀(RIE)腐蚀双层金属布线中介质孔及有关...
来源期刊 上海半导体 学科 工学
关键词 反应离子刻蚀 腐蚀 金属布线 AES
年,卷(期) 1992,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 21-25
页数 5页 分类号 TN405.983
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研究主题发展历程
节点文献
反应离子刻蚀
腐蚀
金属布线
AES
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
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3
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