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摘要:
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带间隧穿
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硅基光电子器件
光探测器
光电子集成
应变p型Si1-xGex层中载流子冻析
应用Si1-xGex层
载流子冻析
电离杂质浓度
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 P±-Si1-xGex/p-Si红外探测器微结构的研究
来源期刊 电子显微学报 学科 工学
关键词
年,卷(期) 1998,(5) 所属期刊栏目 材料科学
研究方向 页码范围 0
页数 1页 分类号 TB3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-6281.1998.05.035
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐军 北京大学电镜实验室 44 285 10.0 15.0
2 刘安生 30 133 6.0 10.0
3 邵贝羚 21 81 6.0 8.0
4 钱佩信 清华大学微电子学研究所 29 158 7.0 11.0
5 安生 5 19 2.0 4.0
6 刘峥 2 1 1.0 1.0
7 王瑞忠 清华大学微电子学研究所 3 1 1.0 1.0
传播情况
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1997(1)
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1998(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子显微学报
双月刊
1000-6281
11-2295/TN
大16开
北京中关村北二条13号(北京2724信箱)
1982
chi
出版文献量(篇)
3728
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3
总被引数(次)
20226
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