星用典型CMOS器件54HC0460Co源辐射效应研究

• 作者: 何宝平 姜景和 张正选 郭红霞
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 辐射效应 阈值电压 总剂量 剂量率
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 334-338
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1|O571.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2000.04.008

摘要

给出了加固和非加固54HC04电路在不同辐射偏置下的低剂量率辐射实验结果,探讨了电流转移曲线、辐射感生漏电流、阈值电压、转换电压随辐射剂量的变化关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宝平		46	291	9.0	13.0
2	郭红霞		81	385	10.0	13.0
3	张正选		21	88	5.0	8.0
4	姜景和		18	78	6.0	7.0