一款通用CPU的存储器内建自测试设计

• 作者: 何蓉晖 宫云战 李华伟 李晓维
• 来源期刊: 同济大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器内建自测试 故障模型 march算法 可测性设计
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1204-1208
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 4223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2002.10.011

摘要

存储器内建自测试(memory built-in self-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法.在一款通用CPU芯片的可测性设计(design-for-testability,DFT)中,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试.5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作,测试结果由扫描链输出,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小.所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到100%的故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所	55	595	14.0	22.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
3	何蓉晖	中国科学院计算技术研究所	3	81	3.0	3.0
4	宫云战	中国科学院计算技术研究所	4	81	4.0	4.0