基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法

• 作者: 刘桂艳 吴继娟 孙媛媛
• 来源期刊: 哈尔滨工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 内建自测 响应检验电路 测试
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 页码范围: 1074-1076
• 页数: 3页
• 分类号: TP332
• 字数: 2475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0367-6234.2004.08.023

摘要

给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法.实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴继娟	哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院	12	68	6.0	8.0