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摘要:
利用自组装单层膜法,在单晶硅基底上生长有机硅烷单分子膜层,并在硅烷的功能性基团上,诱导生成二氧化锡纳米薄膜,通过XPS、AFM、SEM及XRD等手段对膜材料的表面形貌和结构进行了分析.结果表明:自组装单层法制备的SnO2薄膜为晶态膜,膜层致密、均一,厚度约为20 nm,结构为金红石结构.
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文献信息
篇名 SnO2纳米薄膜的自组装制备及表征
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 无机非金属材料 纳米薄膜 自组装单层膜 SnO2薄膜
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 37-39
页数 3页 分类号 TB34|O484
字数 2299字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.03.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王林斗 天津大学电子信息工程学院 23 143 7.0 10.0
2 匡俊华 天津大学电子信息工程学院 3 23 3.0 3.0
3 王可 天津大学电子信息工程学院 5 44 4.0 5.0
4 高明皓 天津大学电子信息工程学院 3 23 3.0 3.0
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电子元件与材料
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51-1241/TN
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成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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