集成电路测试系统的元件库的扩充方法

• 作者: 丛继坤 武一
• 来源期刊: 河北工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 测试系统 元件库 可视化工具 DCTL语言
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 73-77
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 3647字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2373.2006.04.016

摘要

在维修电子设备时,或在制作调试电子设备时,常常需要对元器件的好坏进行判断.YB3118集成电路在线/离线测试系统就是配合电脑对TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件进行测试的仪器.本文主要对该系统的构成原理、技术性能进行了简单的介绍,并详细介绍扩充系统元件库的两种方法(可视化工具和DCTL语言建库).使读者深入地了解了本系统的使用,充分发挥系统的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武一	河北工业大学信息学院	69	379	10.0	15.0
2	丛继坤	河北工业大学科研处	7	24	3.0	4.0