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新兴市场中的SOC测试挑战
新兴市场中的SOC测试挑战
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摘要：
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SoC中混合信号的测试
SoC
混合信号
扫描测试
内置自测试
SOC设计中的IP挑战
SOC设计
IP核
重用
挑战
SOC测试中BIST的若干思考
知识产权模块IP
集成系统芯片SOC
内嵌自测试BIST
开放核协议OCP
SOC系统设计技术发展与挑战
系统级芯片
SiP
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期刊影响力
世界电子元器件
主办单位：
中国电子信息产业发展研究院
出版周期：
月刊
ISSN：
1006-7604
CN：
11-3540/TN
开本：
16开
出版地：
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
邮发代号：
82-796
创刊时间：
1995
语种：
chi
出版文献量（篇）
5855
总下载数（次）
6
总被引数（次）
6108
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