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摘要:
分析了在多芯片叠装封装产品中采用品圆级芯片贴装薄膜对传统芯片制备以及后续封装工艺所产生的巨大影响.阐述了在晶圆级芯片贴装薄膜贴覆工艺,芯片制备以及后序工艺中所遇到的巨大挑战.
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文献信息
篇名 探索晶圆级芯片贴装薄膜和芯片制备集成工艺的新挑战
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 芯片制备 晶圆级芯片贴装薄膜贴覆 划片胶带 紫外光照射 晶圆减薄 电路保护胶带 晶圆划片 芯片贴装
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 工艺与设备
研究方向 页码范围 56-59
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 189字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2006.05.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄楚舒 英特尔技术开发(上海)有限公司封装设计研发部 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
芯片制备
晶圆级芯片贴装薄膜贴覆
划片胶带
紫外光照射
晶圆减薄
电路保护胶带
晶圆划片
芯片贴装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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31
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10002
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