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摘要:
应用苯并环丁烯(BCB)材料对硅片进行了圆片级低温键合,并研究了其在气密性封装工艺中的应用.测试表明:在250℃的低温键合条件下,封装后样品的气密性优于3.0×10-4 Pa·cm3/s He;剪切力达4.7 MPa以上;封装样品合格率达94%以上;通过热循环可靠性测试之后仍具有很好的气密性.BCB是一种较理想的圆片级低温气密性健合封装材料.
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文献信息
篇名 用苯并环丁烯进行圆片级硅–硅气密性键合
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 半导体技术 低温键合 气密性封装 苯并环丁烯(BCB) 气密性检测
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 55-57
页数 3页 分类号 TB42
字数 1809字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.02.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李四华 中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室微系统技术国家级重点实验室 8 64 5.0 8.0
2 吴亚明 中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室微系统技术国家级重点实验室 35 193 9.0 11.0
3 刘玉菲 中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室微系统技术国家级重点实验室 2 29 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
半导体技术
低温键合
气密性封装
苯并环丁烯(BCB)
气密性检测
研究起点
研究来源
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研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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