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摘要:
应用ICP干法刻蚀工艺和自然光刻技术,制备了ITO表面粗化的GaN基LED芯片.聚苯乙烯纳米颗粒在于法刻蚀中作为刻蚀掩膜.通过扫描电镜(SEM)观察ITO薄膜的粗糙度,并且报道了优化的粗化工艺参数.结果表明,ITO表面粗化的GaN基LED芯片同传统的表面光滑的芯片相比在20 mA的驱动电流下,发光强度提高了70%.
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内容分析
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文献信息
篇名 用表面粗化ITO的欧姆接触提高GaN基LED性能
来源期刊 液晶与显示 学科 工学
关键词 GaN基发光二极管 铟锡氧化物 表面粗化 自然光刻
年,卷(期) 2007,(3) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 273-277
页数 5页 分类号 TN312.8
字数 1146字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-2780.2007.03.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙卓 华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心 39 200 8.0 11.0
2 董志江 2 19 1.0 2.0
3 姚雨 华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心 1 18 1.0 1.0
4 靳彩霞 华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心 1 18 1.0 1.0
5 黄素梅 华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心 5 38 3.0 5.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
GaN基发光二极管
铟锡氧化物
表面粗化
自然光刻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
液晶与显示
月刊
1007-2780
22-1259/O4
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-203
1986
chi
出版文献量(篇)
3141
总下载数(次)
7
总被引数(次)
21631
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