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摘要:
利用溶胶-凝胶(Sol-gel)法在单晶硅(100)衬底上分别制备了ZnO:V薄膜和纯ZnO薄膜.为进一步研究后退火对ZnO:V薄膜结构和发光性质的影响,在两段式快速退火后又在800 ℃下进行了后退火处理.X 射线衍射的结果表明:后退火处理前,钒(V)的掺入使ZnO结晶质量变差,而800 ℃退火处理后,从ZnO的衍射峰中可以看出,相对于无V杂样品其结晶质量变好.扫描电子显微镜形貌图中可以看出制备的样品薄膜颗粒大小均匀,薄膜致密度较高.光致发光(PL)谱的研究表明:ZnO:V薄膜在800 ℃退火处理后,紫外和绿带发光峰均增强,但紫外发光峰增强得更多;与同样条件下制备的纯ZnO薄膜的PL谱比较,发现V掺杂后样品的紫外激子复合发光峰的强度明显增强且峰位发生蓝移,而缺陷引起的绿带发光峰的强度降低.
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文献信息
篇名 ZnO:V薄膜后退火处理前后的微结构与发光特性
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 ZnO 钒掺杂 光致发光 溶胶-凝胶法 薄膜
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 561-565
页数 5页 分类号 O472.3|O482.31
字数 3061字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张伟风 河南大学物理与电子学院 66 248 8.0 10.0
2 魏凌 河南大学物理与电子学院 9 83 4.0 9.0
3 张杨 河南大学物理与电子学院 6 13 2.0 3.0
4 张丽亭 河南大学物理与电子学院 2 13 2.0 2.0
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薄膜
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发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
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