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摘要:
本文采用升华法沿着垂直于c轴方向的[1-100]方向生长6H-SiC单晶.利用光学显微镜对晶体表面及腐蚀后的晶片进行观察,发现沿[1-100]方向生长出的单晶与传统方法沿[0001]方向生长单晶有很多的不同之处,多型对于籽晶的继承性非常强,但是在生长过程中多型夹杂不会发生,该方法生长的晶体中没有发现螺位错(微管)缺陷.
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韵律束合现象
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 沿[1-100]方向升华法生长6H-SiC单晶
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 升华法 SiC 微管 多型
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 14-17
页数 4页 分类号 O771|O782
字数 1853字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2007.01.004
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
升华法
SiC
微管
多型
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
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16
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38029
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