SRAM型FPGA总剂量效应实验研究

• 作者: 何宝平 姚志斌 张凤祁 张科营 王圆明 罗尹虹 郭红霞
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 辐照效应 总剂量效应
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 935-939
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 3605字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2009.12.013

摘要

为了探索SRAM型FPGA器件的总剂量效应测试方法及效应敏感参数,以XC2S100为实验样品,设计了两种配置电路,利用~(60)Co γ辐照装置进行了总剂量效应辐照实验.通过对实验结果的分析,给出了SRAM型FPGA器件配置存储器及块存储器的测试流程,并指出功耗电流是表征效应的最敏感参数.这些结果对建立SRAM型FPGA的考核方法及测试方法打下了坚实的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宝平		46	291	9.0	13.0
2	罗尹虹		54	199	8.0	10.0
3	张凤祁		40	169	8.0	10.0
4	郭红霞		81	385	10.0	13.0
5	姚志斌		35	171	8.0	10.0
6	张科营		23	111	7.0	8.0
7	王圆明		6	22	3.0	4.0