一种双模互锁的容软错误静态锁存器

• 作者: 梁华国 王伟 詹文法 黄正峰
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 双模互锁 单事件翻转 C单元
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 电子信息
• 页码范围: 2020-2024,2061
• 页数: 6页
• 分类号: TN47
• 字数: 3631字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2009.05.046

摘要

针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因,提出一种容软错误锁存器结构--DIL-SET.该结构在内部构建基于C单元的双模互锁结构,针对单事件翻转进行防护.ISCAS-89标准电路在UMC 0.18μm 工艺下的实验表明,使用DIL-SET代替未经加固的静态锁存器,面积开销增加4.99%～53.47%,软错误率平均下降99%以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹文法	合肥工业大学计算机与信息学院	15	205	8.0	14.0
2	王伟	合肥工业大学计算机与信息学院	295	3192	30.0	44.0
4	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
5	黄正峰	合肥工业大学计算机与信息学院	101	590	14.0	19.0