集成电路测试工艺优化方法

• 作者: 蔡锷
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 最低限度测试集合 最优化测试集合 自适应测试集合 预测性的测试集合
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 162-164
• 页数: 3页
• 分类号: TN402
• 字数: 2450字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2009.08.050

摘要

依据摩尔定律集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍.若继续采用传统的集成电路测试工艺,则测试时间和测试硬件等因素将使集成电路的测试成本不断增加.旨在对传统的集成电路测试工艺进行优化,提出一种兼顾质量并能有效降低集成电路测试成本的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡锷	上海交通大学电子信息学院	1	2	1.0	1.0