篇名 | Electrical Characterization of Traps in AlGaN/GaN FAT-HEMT’s on Silicon Substrate by C-V and DLTS Measurements | ||
来源期刊 | 现代物理(英文) | 学科 | 工学 |
关键词 | ALGAN/GAN FAT-HEMT’s C-V CAPACITANCE DLTS Deep Level | ||
年,卷(期) | xdwlyw_2011,(10) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 1229-1234 | |
页数 | 6页 | 分类号 | TN3 |
字数 | 语种 | ||
DOI |