集成电路老化测试插座的结构形式

• 作者: 余珺 周庆平 肖颖
• 来源期刊: 电子产品世界
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 老化测试 插座 表面贴装 封装
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 设计思路
• 页码范围: 45-48
• 分类号: TN405
• 字数: 4114字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2011.04.010

摘要

集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂.本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余珺	中国电子科技集团公司第四十研究所	2	5	2.0	2.0
2	肖颖	中国电子科技集团公司第四十研究所	6	10	2.0	2.0
3	周庆平	中国电子科技集团公司第四十研究所	5	6	2.0	2.0