FCCL高频介电性能和介电热系数的测量

• 作者: 刘申兴 王志勇 葛鹰
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: FCCL 分离式介质谐振腔法 介电常数 介电损耗角正切 介电常数热系数
• 年，卷（期）: 2011,（z1）
• 所属期刊栏目: 印制电路基板材料
• 页码范围: 28-32
• 分类号: TN41
• 字数: 1645字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2011.z1.007

摘要

由于FCCL机械性能特点,FCCL大量用于刚挠结合电路.而应用在FCCL电路的传输频率较低,高频介电性能如介电常数Dk和介电损耗角正切Df未被重视起来.本文利用分离式介质谐振腔法测量FCCL的介电性能,测试频率范围为1.1 GHz ～15.5 GHz,并测量其介电常数热系数TCEr.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛鹰		8	9	2.0	3.0
2	王志勇		2	2	1.0	1.0
3	刘申兴		7	7	1.0	2.0